日期:2012.10.19
時間:13:50 ~ 15:30
地點:S104
作者:資工研一 謝慶勳
講者:宏瀨科技 詹方興
今天的演講主要AOI(自動光學檢測)技術,其主要是用來使用光學影像及影像比對檢測技術進行產品的檢測。針對輕薄短小、密度高之電子產品的檢測需求而開發,在不需測試治具、不需電子量測且不破壞產品的情況下,可有效檢出元件的各種不良製程。並且可避免傳統人工目檢的不穩定因素,亦可加速檢測時間,有效為產品的品質把關,提高產能及減少生產、維修成本。AOI技術領域非常廣泛,廣義的AOI為結合光學感測系統、訊號處理系統及分析軟體,應用層面可包括宇宙探測、航空、衛星遙測、生物醫學、工業生產品質檢測、指紋比對、機器人控制、多媒體技術。
AOI主要組成技術包含1.照明與光學
2.影像擷取與資料傳輸
3.影像處理與模式辨別
4.Coding(程式撰寫與硬體資源管理)
5.機台、運動機構、定位控制與自動化
如右圖即為AOI設備
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