課程:論文研討(一)
日期:2012.10.19
時間:13:50 ~ 15:30
地點:S104
作者:資工研一 王品傑
講者:宏瀨科技-詹方興
自動光學檢測是一個能自動提供控制信號的影像分析器,經由影像偵測器,從目的物擷取原始影像,再將取得的影像資料藉由電腦內所設計的演算法則軟體來計算處理與特性分析,最後再將取得的運算結果,以數位或類比方式輸出,提供生產者做品質的決策判斷。因此,隨著高科技快速的發展以及奈米科技的創新,高科技產業對新量測與檢測設備的高度需求有增無減。
動光學檢測(AOI)設備被定義為完全自動化的光學系統,依技術可分為1-D(一維條碼檢測、位移檢測)、2-D(圖像識別、瑕疵分類、二維條碼檢測、形狀量測、熱影像檢測、色澤檢測)及3-D(形狀量測、高度瑕疵檢測)3種,其技術應用非常廣泛,包括工業生產品質檢測、宇宙探測、生物醫學成像檢測、軍警指紋比對及字形辨認、機械視覺、多媒體技術應用等。
其應用領域則包括半導體、印刷電路板產業、BGA、LCD螢幕、被動元件形狀腳位及定位、生產插件、晶圓(Wafer)鏡面研磨、生產組裝、被動元件辨識等等。
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