自動光學檢測技術與職場經驗分享

課程：論文研討(一)
日期：2012.10.19
時間：13:50 ~ 15:30
地點：S104
作者：資工研一　王怡雯
講者：宏瀨科技-詹方興
心得:這次的主題是自動光學檢測AOI(Automated Optical Inspection)，內容提到了為什麼我們要使用AOI？現在是高科技產業的時代，許多產品都被製造的極其嚴密，傳統的人工重複檢查除了耗時之外，肉眼也不易發現瑕疵的存在，許多零件都被製造的很小很小，而且還很快，人工的速度根本趕不完，所以AOI提供了以下五個優點:
1.       效率高
2.      解析度高
3.      速度快
4.      具重現性
5.      非破壞性
也就是說就廣義的AOI便是結合光學感測系統和分析軟體，可以應用的層面有很多，譬如:宇宙探測、超音波成像、產品品質檢測、指紋比對等等，十分廣泛，狹義的AOI設備就是一般供給工業使用的，例如:IC電子、零件、晶元鏡面等，而演講中特別提到了PCB以及LCD的AOI檢測項目，項目的細項分別有BM殘留、BM MVA殘留、BM環狀殘留、BM粒子殘留、ITO粒子、金屬粒子、異物、變色、露鎳、刮傷、S/M漏印等，其實AOI的應用如下圖顯示[1]，其中又以第一項居多:

圖[1]

鏡頭、相機、顯示卡、主機板、照明燈、機械、自動化、軟體等都可使用AOI做檢測，這些知識是我從來不知道的技術，聽過演講以及自行上網搜尋後，對AOI有了基本的認識，但也看到了許多專業技術術語，不是一個禮拜就能熟悉的，雖然這不是我專攻的領域，但能吸收這些新知拓展視野也許正是老師的目的吧!
資料來源: [1]http://utdcpo.ntust.edu.tw/omtc/files/d6a6bda9-7d3f-41db-b424-1c2a11ff0a51/97071..